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2010Detailed characterization of electron sources yielding first demonstration of European x-ray free-electron laser beam qualityStephan, F.; Boulware, C.H.; Krasilnikov, M.; Bähr, J.; Asova, G.; Donat, A.; Gensch, U.; Grabosch, H.J.; Hänel, M.; Hakobyan, L.; Henschel, H.; Ivanisenko, Y.; Jachmann, L.; Khodyachykh, S.; Khojoyan, M.; Kohler, W.; Korepanov, S.; Koss, G.; Kretzschmann, A.; Leich, H.; Ludecke, H.; Meissner, A.; Oppelt, A.; Petrosyan, B.; Pohl, M.; Riemann, S.; Rimjaem, S.; Sachwitz, M.; Schoneich, B.; Scholz, T.; Schulze, H.; Schultze, J.; Schwendicke, U.; Shapovalov, A.; Spesyvtsev, R.; Staykov, L.; Tonisch, F.; Walter, T.; Weisse, S.; Wenndorff, R.; Winde, M.; Vu, L.V.; Durr, H.; Kamps, T.; Richter, D.; Sperling, M.; Ovsyannikov, R.; Vollmer, A.; Knobloch, J.; Jaeschke, E.; Boster, J.; Brinkmann, R.; Choroba, S.; Flechsenhar, K.; Flottmann, K.; Gerdau, W.; Katalev, V.; Koprek, W.; Lederer, S.; Martens, C.; Pucyk, P.; Schreiber, S.; Simrock, S.; Vogel, E.; Vogel, V.; Rosbach, K.; Bonev, I.; Tsakov, I.; Michelato, P.; Monaco, L.; Pagani, C.; Sertore, D.; Garvey, T.; Will, I.; Templin, I.; Sandner, W.; Ackermann, W.; Arévalo, E.; Gjonaj, E.; Muller, W.F.O.; Schnepp, S.; Weiland, T.; Wolfheimer, F.; Ronsch, J.; Rossbach, J.
2001Förderschwerpunkt NOVALAS : Grundlegende Untersuchungen zur Technologie von Hochleistungsdiodenlasern, Teilvorhaben: Hochleistungsdiodenlaser auf der Basis von Al-freien Quantengräben und Wellenleitern im Wellenlängenbereich 800 - 1000 nm ; SchlussberichtErbert, G.; Beister, G.; Brade, P.; Fechner, I.; Fredrich, D.; Fricke, J.; Gielow, M.; Hülsewede, R.; Klein, A.; Krause, A.; Knauer, A.; Maege, J.; Pittroff, W.; Olschewsky, R.; Rechenberg, I.; Ressel, P.; Sebastian, J.; Selent, R.; Staske, R.; Schulze, H.; Sumpf, B; Tessaro, T.; Vogel, K.; Wenzel, H.; Wiechmann, S.; Weyers, M.; Würfel, J.; Wochatz, P.