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Issue DateTitleAuthor(s)
2005Metastability : a potential theoretic approachBovier, Anton
2005Transient numerical study of termperature gradients during sublimation growth of SiC: Dependence on apparatus designGeiser, Jürgen; Klein, Olaf; Philip, Peter
2005Stochastic spectral and Fourier-wavelet methods for vector Gaussian random fieldsKurbanmuradov, Orazgeldi; Sabelfeld, Karl
2005Interaction of actinides with the predominant indigenous bacteria in Äspö aquifer : interactions of selected actinides U(VI), Cm(III), Np(V) and Pu(VI) with Desulfovibrio äspöensisMoll, Henry; Merroun, Mohamed; Stumpf, Thorsten; Roßberg, André; Geipel, Gerhard; Selenska-Pobell, Sonja; Bernhard, Gert
2005Entwicklung von halogenfreien Flammschutzmitteln auf Phosphorsäureester-Basis : Schlussbericht zum BMBF-VerbundprojektTaeger, Frank
2005Hochbitratige Schaltungen mit InP-HBTs : SchlussberichtHeinrich, W.; Brunner, F.; Kurpas, P.; Meliani, C.; Rudolph, M.; Sidorov, V.; Würfl, J.
2005Entwicklung von umweltgerechten Pulverlack-Top-Coats mit wasser- und schmutzabweisender Oberfläche - TV1 Pulverlacksysteme : Abschlussbericht zum BMBF-Projekt im Rahmen des Förderprogramms: "Forschung für Umwelt" im Bereich "Integrierter Umweltschutz in der Kunststoff- und Kautschukindustrie"Appelhans, D.; Wang, Z.-G.; Zhuang, R.-C.; Stephan, U.; Synytska, A.
2005Verbundprojekt: Entwicklung von multikristallinem Solarsilicium mit hohem photovoltaischen Wirkungsgrad und verbesserter Prozessausbeute (GESSICA II), Teilprojekt: Strukturelle Charakterisierung von Defekten in Randschichten von im Blockgussverfahren hergestelltem Solarsilicium : AbschlussberichtIrmscher, Klaus; Doerschel, Jürgen; Juda, Uta; Naumann, Martin; Roßberg, Matthias
2005BMBF-Projekt vascoda : Abschlussbericht zum Vorhaben Realisierung einer fachübergreifenden Infrastruktur für elektronische InformationsdienstleistungenBurblies, Christine; Hutzler, Evelinde; Roesner, Elke; Toepfer, Ralf; Wolhorn, Christina
2005Teilprojektthema: Beschichtungstechnologie für EUV-Lithographiemasken im Verbundprojekt: Grundlagen der EUV-Lithographie: Beschichtung von EUV-Maskblanks : IOM-AbschlussberichtRauschenbach, B.